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半導體分立器件測試#晶體管直流參數(shù)測試
內(nèi)容簡介 半導體靜態(tài)/動態(tài)測試,半導體測試設(shè)備可針對,光耦測試,功率循環(huán)測試
半導體測試設(shè)備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進行高精度靜態(tài)參數(shù)測試（導通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)）測試精度可達16位ADC；動態(tài)雙脈沖（包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg）及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等；環(huán)境老化測試（包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命等
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